Buzz
Trong khoảng 14-15/5/2022, VinFast tổ chức sự kiện trải nghiệm các dòng xe máy điện thế hệ mới như Feliz S, Klara S 2022, Vento S và Theon S tại Vinhomes Central Park (Quận Bình Thạnh, TP.HCM). Anh em đam mê xe máy điện sẽ có cơ hội thử lái những mẫu xe mới với công nghệ pin LFP, có khả năng di chuyển gần 200km/lần sạc và tham gia các hoạt động tương tác, giải trí tại sự kiện.
Khoảng 2 tuần sau khi ra mắt 5 mẫu xe máy điện mới, bao gồm Evo 200, Feliz S, Klara S 2022, Vento S và Theon S với nâng cấp về khả năng vận hành, VinFast mang đến cơ hội lái thử những dòng xe mới và hấp dẫn này cho khách hàng khu vực phía Nam. Chương trình diễn ra từ 9h đến 21h trong hai ngày 14-15/5/2022 tại Vinhomes Central Park, quận Bình Thạnh, TP. Hồ Chí Minh.
VinFast tổ chức khu vực trải nghiệm lái thử xe máy điện và trưng bày đầy đủ mẫu xe và phụ kiện từ đối tác. Đội ngũ chuyên gia sẽ giới thiệu và giải đáp thắc mắc về xe máy điện.Ngoài các hoạt động thử nghiệm, lái thử xe máy điện, sự kiện của VinFast còn có các chương trình giải trí cuối tuần hấp dẫn. Khách tham quan có thể tham gia hoạt động tương tác và nhận nhiều phần quà từ nhà sản xuất. Buổi nhạc hội với sự tham gia của các ca sĩ nổi tiếng như Ricky Star, Lou Hoàng, ST Sơn Thạch, DJ Devuz hứa hẹn mang lại không khí giải trí âm nhạc thú vị.
5 dòng xe máy điện mới của VinFast, ra mắt cuối tháng 4, ấn tượng với khả năng vận hành đáng chú ý. Sử dụng pin tiên tiến Loại LFP, các mẫu xe này có khả năng di chuyển tới 200 km mỗi lần sạc đầy, đạt tốc độ tối đa 100 km/giờ. Pin LFP đặc biệt có khả năng chống cháy nổ, tăng cường an toàn và giảm tác động môi trường bằng cách loại bỏ kim loại hiếm như Niken, Coban...VinFast triển khai chính sách ưu đãi đặc biệt, tặng 12 tháng sử dụng pin không giới hạn trị giá gần 5 triệu đồng cho khách hàng đặt cọc mua xe từ bây giờ đến hết ngày 31/5/2022. Đồng thời, khách hàng đặt cọc trực tuyến trên trang web VinFast sẽ có cơ hội tham gia chương trình Vòng quay may mắn “Khám phá công nghệ, Đón quà may mắn” với phần quà tổng trị giá hơn 800 triệu đồng.
